—GERAL—

O ZSX Primus II da Rigaku fornece rapidamente a determinação quantitativa de elementos atômicos maiores e menores, do berílio (Be) ao urânio (U), em uma ampla variedade de tipos de amostras, com padrões mínimos. Este equipamento apresenta uma configuração com irradiação superior, eliminando a contaminação do sistema ótico pelas amostras ou o tempo gasto devido à manutenção da câmara de amostra. Esta configuração elimina a necessidade de limpeza.

 
Fornecendo performances superiores, com flexibilidade nas análises das amostras complexas, o ZSX Primus II possui um tubo de 30 mícrons, com a janela mais fina disponível no mercado, para limites de detecção excepcionais, de elementos leves.
 
Aliado ao mais avançado pacote de mapeamento, para detectar a homogeneidade e inclusões, o ZSX Primus II permite investigar detalhes de amostras, que fornecem descobertas analíticas não facilmente obtidas, através de outras metodologias de análise. A análise de pontos múltiplos também ajuda a eliminar erros de amostras, em materiais não homogêneos.
 
A fácil varredura  permite que usuários analisem amostras desconhecidas, sem configurações prévias.  A economia de tempo exige apenas alguns cliques no mouse e a entrada do nome da amostra.
 
Utilizando o software de parâmetros fundamentais SQX, o equipamento proporciona resultados mais rápidos e precisos. O SQX é capaz de corrigir automaticamente todos os efeitos de matriz, incluindo sobreposições de linha. O SQX também pode corrigir o efeito de excitação secundária por fotoelétrons (elementos leves e ultraleves), atmosferas variáveis, impurezas e diferentes tamanhos de amostras.  Utilizando livrarias de comparação e programas de análises de varredura perfeita, a precisão é otimizada.



—CARACTERÍSTICAS—
 
. Análise de elementos de Be a U
. Ótica de irradiação superior minimiza problemas de contaminação
. Pouca ocupação de espaço
. Análise micro para amostras pequenas  (500 µm)
. Tubo de 30μ proporciona performance superior de elementos leves
. Mapeamento para topografia/distribuição do elemento
. Selagem com hélio faz com que câmara da amostra esteja sempre sob vácuo
 

—ESPECIFICAÇÕES—

. Geral
    . Cobertura de elementos: Be? a U92?
    . Ótica: dispersiva por comprimento da onda, sequencial,  radiação superior

. Gerador de Raios X
    . Tubo de Raios X: janela, anodo RH, 3kW ou 4 kW, 60kV
    . Gerador de energia de alta voltagem: Inversor de alta frequência, estabilidade ±0.005%
    . Resfriamento: Trocador de calor interno  water-to-water

. Espectrômetro

     . Trocador de amostras: 48 posições(padrão), 96 posições (opcional)?
     . Tamanho máximo da amostra: 51 mm (diâmetro) x 30 mm (altura)?
     . Área  de análise da amostra: 35mm (diâmetro)?
     . Velocidade de rotação da amostra: 30 rpm?
     . Filtros primários de Raios X: Al, Ti, Cu e Zr?
     . Colimadores de feixe: 6 diâmetros auto selecionáveis: 35, 30, 20, 10, 1 e 0.5 mm?
     . Colimador divergente: 3 auto selecionáveis: resoluções padrão, alta e de curso ?
     . Colimador de recebimento: para detectores SC e F-PC?
     . Goniômetro: mecanismo de movimento independente θ – 2θ?
     . Faixa angular: SC: 5-118°, F-PC: 13-148°?
     . Velocidade máxima de varredura: 1400°/min (2θ)?
     . Reprodutibilidade angular: ±0.0005°?
     . Varredura contínua: 0.1 - 240°/min?
     . Trocador de cristal: 10 cristais, mecanismo automático?
     . Sistema por fluxo de He:  opcional?
     . Estabilizador de temperatura: 36.5°C ± 0.1°C

. Sistemas Detectores
     . Detector de elementos pesados: Contador de cintilação (SC)?
     . Detector de elementos leves (F-PC)?
     . Atenuador: Trocador automático in-out (1/10)
 

—APLICAÇÕES—

 
. Análise de ligas metálicas padrão?
. Análise de traços em pós TiO2 usados em cosméticos?
. Catalisador automotivo?- Polímero PET dopado por regressões quantitativas?
. Análise de falha usando o espectrômetro  de fluorescência de Raios X,  dispersivo por comprimento da onda e análise  SQX sem padrão
. Análise semi-quantitativa rápida de liga de metais
. Mapeamento do granito
. Mapeamento e análise semi-quantitativa  de xisto/ardósia
. Mensuração de uma liga de níquel Cr/Fe usando SDX de ângulo fixo
. Micro análise de inclusões em fios de cobre
. Estatísticas de repetibilidade de ligas metálicas 316
. Análise semi-quantitativa do método Ultra Carry para SPEX LPC Padrão 1
. Análise quantitativa de amostras desconhecidas de clientes
. Análise quantitativa ultra baixa (ppb) usando o método Ultra Carry para água de rio padrão JAC0032
Rigaku
Desde a sua criação, a Rigaku está à frente da tecnologia ligada à instrumentação analítica e industrial. Contando com as maiores inovações nesta área, a Rigaku é líder mundial em difração e espectrometria, cristalografia de raios X para proteína e pequenas moléculas, metrologia de semicondutores, automação, criogênicos e raios X ópticos, espectroscopia Raman, entre outros.