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Miniflex - Difratômetro de Bancada - 6ª Geração
Instrumento que pode determinar a identificação de fase cristalina, cristalinidade, tamanho e tensão do cristal, refinamento Rietveld e do parâmetro de rede e a estrutura molecular.
- Representada: Rigaku
- Indústrias: Cimento, Cosméticos, Educação, Ciência de materiais, Carvão, Ambiental, Alimentos, Farmacêutico, Forense, Geologia e minerais, Materiais, Mineração, P&D, Petróleo e petroquímica, Polímeros e Plásticos, Química, Revestimentos
- Técnicas: Difração de raios X (XRD)
- Aplicações: Identificação de composição, Detecção de polimorfismo por estudos de dissoluções, Comportamento de uma droga sob atmosfera úmida, Estudo do polimorfismo e cristalinidade de drogas, Exploração de petróleo, Análise de calcário, Análise Rietveld, Cerâmica, Cimento, Cristalografia de pós, Cristalografia química, Mineralogia, Análise de cimento Portland
| Técnica | Difração de Raios X (XRD) |
| Benefício | Análise de fase de materiais policristalinos |
| Tecnologia | Difratômetro de raios X de bancada com detector avançado |
| Principais atributos | Tudo de raios X de 600 W, detector de faixa de silicone D/teX Ultra, aceita amostras incomuns, equipamento de bancada |
| Opções principais | Amostrador automático de 8 posições, detector HyPix-400 MF (2D HPAD), monocromador de grafite, porta-amostra sensível ao ar, porta-amostra ShapeFlex |
| Computador | PC externo, MS Windows® OS com SmartLab Studio-II software |
| Dimensões | 620 (W) x 722 (H) x 460 (D) mm |
| Peso | 80 kg (unidade principal) |
| Requerimentos de energia | 1Ø, 100-240 V 50/60 Hz |
A 6ª geração do analisador por difração de raios X de bancada MINIFLEX é um instrumento de análise multipropósito de difração que pode determinar a identificação de fase cristalina (phase ID) e sua quantificação, o percentual de cristalinidade, tamanho e tensão do cristal, refinamento Rietveld, refinamento do parâmetro de rede e a estrutura molecular. É amplamente usada em pesquisa, especialmente em ciência de materiais e química, assim como na indústria para pesquisa e controle de qualidade.
Difração de raios X com detector HPAD
O difratômetro de raios X Miniflex entrega rapidez e sensibilidade através de avanços na tecnologia, incluindo o detector HPAD (HyPix-400 MF 2D hybrid pixel array detector) em conjunto com uma fonte de raios X de 600W e um trocador de amostras automático de 8 posições.
Detector de matriz de pixels hibrido (HPAD)
Esse novo detector de contagem direta de fótons permite a coleta de dados em alta velocidade e com baixo ruído e pode ser operado em modo 0D e 1D para análise XRD convencional e 2D para amostras com grãos grossos e/ou orientação preferida.
Acessórios que realçam o seu MIniflex
Uma variedade de anôdos de tubos de raios X, juntamente uma gama de acessórios de rotação e posicionamento de amostras além de acessórios de temperatura são oferecidos para garantir que a difração de Raios X do Miniflex seja versátil para entregar análises quantitativas e qualitativas desafiadoras de uma variedade de amostras, seja em pesquisa ou controle de qualidade. A 6ª geração de Miniflex incorpora a filosofia da Rigaku “Liderança com inovação”, oferecendo o Sistema de bancada de difração de pó mais avançado do mundo.
Software avançado de difração de pós
Cada miniflex vem com a última versão do SmartLab Studio-II, o pacote de análise de difração de pós da Rigaku. A ultima versão oferece novas funcionalidade, incluindo a métodos de parâmetros fundamentais para mais acurácia no cálculo de pico, identificação de fase usando o Crystallography Open Database (COD) e um tutorial para análise de estrutura de cristal ab inito.
- ASC-8: Trocador automático de amostra de 8 posições, com girador de amostras
Este trocador é compacto e robusto. A rotação integrada otimiza as medições de amostras policristalinas. Alinhamento totalmente automático. Programável.
- Suporte de amostras
Vários tipos estão disponíveis para atender necessidades de aplicações específicas.
- Estágio de rotação da amostra
Este estágio permite a contínua rotação do suporte da amostra, para diminuir o efeito da orientação preferencial, durante as medições de difração de pós.
- Monocromador de grafite
O monocromador de grafite otimiza a sensibilidade, diminuindo o nível do background (ruído de fundo). Ele melhora o sinal/ruído por eliminação da fluorescência do Mn, Fe, Co e Ni, contidos nos materiais.
- Acessório BTS 500 de alta temperatura
O acessório de alta temperatura pode aquecer a amostra para medições in-situ de difração de pós sob altas temperaturas (ambiente até 500°C)
- Suporte de amostra sensível ao ar
Um suporte de amostra está disponível, para usuários que analisam materiais passíveis de degradação, na presença de oxigênio.
- Detector de silício de alta velocidade
- HyPix-400 MF
Detector 2D de matriz de pixels híbrido (HPAD) para coletar imagens de difração de 2 dimensões. As imagens de difração 2D revelam orientação preferencial e informações de tamanho do cristal para amostras, juntamente com informações de parâmetro de fase e rede.
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