Análise elementar de rastreamento rápida e caracterização de filme fino

O novo espectrômetro de fluorescência de raios X de reflexão total (TXRF) de bancada da Rigaku, o NANOHUNTER II, permite análises elementares de ultra-traços de alta sensibilidade de líquidos em concentrações de partes por bilhão (ppb). A espectroscopia de fluorescência de raio X de reflexão total é um método pelo qual um feixe de raios X incidente atravessa a amostra, fornecendo baixo ruído de fundo e medição de alta sensibilidade de elementos ultra-traço.

TXRF para aplicações ambientais de oligoelementos

Devido às regulamentações ambientais cada vez mais rigorosas, há agora uma demanda por um método mais simples de conduzir análises elementares até níveis de ppb para líquidos de resíduos de fábricas e fluxos de efluentes. Usando o espectrômetro NANOHUNTER ™ II, a análise até o nível de ppb torna-se possível, mesmo com um tamanho de amostra muito pequeno, simplesmente adicionando uma gota de líquido ao transportador de amostra, secando-o e, em seguida, realizando a medição. As análises quantitativas usando substâncias de padrão interno também podem ser realizadas facilmente.

TXRF de bancada com potência de tubo de raios X de 600 W

O analisador Rigaku NANOHUNTER II TXRF combina um sistema de ajuste de eixo óptico totalmente automático que fornece análise de alta sensibilidade estável em um formato de bancada, de fácil manuseio que permite uma operação rápida e sem problemas. Com uma fonte de raios X de alta potência, 600 W, um espelho (ótico) recentemente desenvolvido e um detector de desvio de silício de grande área (SDD), o espectrômetro NANOHUNTER II TXRF possui um amostrador automático de 16 posições para aproveitar os tempos de medição rápidos para taxa de transferência.

Princípio de operação TXRF

Um feixe de raios X incidente incide sobre a amostra em um ângulo raso (abaixo do ângulo crítico para a reflexão total dos raios X para o substrato), resultando na reflexão virtualmente completa do feixe de excitação para longe do detector de desvio de silício (SDD). Isso proporciona contribuições de fundo dramaticamente reduzidas nos espectros de fluorescência de raios X dispersiva de energia medida (EDXRF). Ao excitar de forma eficiente os elementos de superfície, ao mesmo tempo que elimina virtualmente o ruído de fundo, a técnica TXRF oferece um desempenho sinal-ruído extremamente alto, resultando em sensibilidade de medição elementar ultra-traço.

GI-XRF para perfil de profundidade de filmes finos

Na área de análise de superfícies sólidas, há demanda (principalmente nas áreas de filmes finos e filmes espessos) por análises que penetram um pouco mais fundo do que a superfície. Para esse tipo de análise, uma metodologia chamada fluorescência de raios X de incidência rasante (GI-XRF) é empregada, na qual os elementos abaixo da superfície são excitados pela variação do ângulo de incidência da fonte de raios X. Como o espectrômetro NANOHUNTER II TXRF possui ângulo de incidência variável, é possível realizar análises de superfície de perfil de profundidade. A técnica GI-XRF é aplicável à pesquisa em nanoescala.