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NEX DE
O Rigaku NEX DE é um analisador elementar de Fluorescência de raios X dispersiva de energia (EDXRF) de bancada de alto desempenho.
- Representada: Rigaku
- Indústrias: Alimentos, Ambiental, Carvão, Ciência de materiais, Cimento, Cosméticos, Educação, Farmacêutico, Forense, Geologia e minerais, Metais e ligas, Mineração, P&D, Petróleo e petroquímica, Polímeros e Plásticos, Química, Revestimentos
- Técnicas: Fluorescência de Raios X
- Aplicações: Análise de carvão, Análise de cimento Portland, Análise de metais pesados em aerossóis em filtros de ar, Análise de calcário, Análise de lubrificantes, Análise de resina de PVC, Qualificação ASTM para análise de cimento hidráulico, Processamento de minério de níquel, Filmes finos em silicone, Traços de elementos em soluções aquosas com UltraCarry, Análise de paládio em catálisadores
O Rigaku NEX DE é um analisador elementar de Fluorescência de raios X dispersiva de energia (EDXRF) de bancada de alto desempenho. Oferece ampla cobertura elementar atráves do software QuantEZ, que é baseado em Windows® e é fácil de aprender. Analise de forma não destrutiva do sódio (Na) ao urânio (U) em quase todas as matrizes, de sólidos e ligas a pós, líquidos e lamas.
Análise Elemental de XRF em Campo, Fábrica ou Laboratório
Especialmente projetado para uso industrial pesado, seja no chão de fábrica ou em ambientes de campo remotos, o poder analítico superior, a flexibilidade e a facilidade de uso do NEX DE aumentam seu amplo apelo para uma gama cada vez maior de aplicações , incluindo exploração, pesquisa, inspeção RoHS em massa e educação, bem como aplicações de monitoramento industrial e de produção. Quer a necessidade seja o controle de qualidade básico (QC) ou suas variantes mais sofisticadas – como controle de qualidade analítico (AQC), garantia de qualidade (QA) ou controle de processo estatístico como Six Sigma – o NEX DE é a escolha confiável de alto desempenho para análise elementar de rotina por XRF.
XRF com tubo de raios-X de 60 kV e detector SDD
O tubo de raios X de 60 kV e o detector de desvio de silício FAST SDD® resfriado Peltier oferecem repetibilidade excepcional de curto prazo e reprodutibilidade de longo prazo com excelente resolução de pico de elemento. Essa capacidade de alta tensão (60 kV), junto com a corrente de alta emissão e vários filtros de tubo de raios X automatizados, fornece uma ampla gama de versatilidade de aplicações de XRF e limites de detecção baixos (LOD).
Opções de XRF: Amostrador automático, vácuo, hélio e FP sem padrão
As opções incluem parâmetros fundamentais, uma variedade de trocadores de amostra automáticos, girador de amostra e purga de hélio ou atmosfera de vácuo para aumentar a sensibilidade do elemento de luz.
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